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平移式测试分选机

拾取放置分选机可以稳定处理各类IC，满足大规模量产测试对精度和产能的需求。

EXCEED-6000系列分选机

用于Functional Test 的IC测试分类，具有高产能、高稳定性。支持IC芯片在不同环境（常温、高温），进行8site 并行测试分选。

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EXCEED-8000系列分选机

用于Functional Test 的IC测试分类，具有高产能、高稳定性。支持IC芯片在不同的温度（常温、高温、低温）环境下，进行16site 并行测试分选。可实现高精度的温度控制。

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EXCEED-9000系列分选机

用于Function Test的料管式包装的IC测试分类，具有高产能、高稳定性等特征。最多支持32工位同测、支持常温、高温测试要求。

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EXCEED-9800系列分选机

用于Function Test的IC测试分类，具有高产能、高稳定性、高精度温度控制等特征。最多支持16工位同测，支持常温、高温、低温测试要求。

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NEOCEED-8000系列分选机

用于Function Test的料管式包装的IC测试分类，具有高产能、高稳定性等特征。最多支持16工位同测、支持常温、高温测试要求。

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NEOCEED-9800系列分选机

用于Function Test的料管式包装的IC测试分类，具有高产能、高稳定性等特征。最多支持16工位同测、支持低温、常温、高温测试要求。

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系统级测试分选机

在模拟真实应用场景下对芯片进行功能与性能测试，检验产品在终端设备中的可靠性和兼容性。

SUMMIT-3100系列分选机

用于System Level Test的IC测试分类，具有高产能、高稳定性等特征。可支持6/12/16工位同测，支持常温、高温、低温测试要求。

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工程测试分选机

为芯片研发和原型验证阶段提供灵活的测试解决方案，加速产品上市进程。

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